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La cristallisation de silicium amorphe en couches minces - In : En direct (152 du 01/06/2001)
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La faisabilité de la technique de la cristallisation induite par l'aluminium (CIA) est démontrée par une étude réalisée par l'Institut de microtechnique de l'université de Neuchâtel en collaboration avec l'université New South Wales de Sydney (Australie).
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Pagination :
pp.2
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In : En direct (152 du 01/06/2001)
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Extrait du livre
Biographie
Table des matières
Exemplaires
| Titre | Support | Consultation | Bibliothèque | Secteur | Localisation | Cote | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| La cristallisation de silicium amorphe en couches minces - In : En direct (152 du 01/06/2001) | Presse | Sur place (magasin) | Musée du Temps | Réserve Musée du Temps | PER034 | En rayon |
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